德國Roentgenanalytik X-射線熒光分析儀 ComPact eco (其他產(chǎn)品:ComPact 5,ComPact 5PIN,GOLDCHECK,Maxxi5,Maxxi5PIN,Maxxi5 ROhs)可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度,附帶功能:合金成份分析,電鍍液成份分析,中文簡(jiǎn)體、繁體、英文操作系統(tǒng)。 特性:可測(cè)元素范圍: 鈦(Ti) – 鈾(U) 可測(cè)量厚度范圍: 原子序22-25,0.1-0.8μm 26-40,0.05-35μm 43-52,0.1-100μm 72-82,0.05-5μm 自動(dòng)測(cè)量功能:編程測(cè)量,自定測(cè)量修正測(cè)量功能:底材修正,已知樣品修正 定性分析功能:光譜表示,光譜比較 定量分析功能:合金成份分析 數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能:x管理圖,x-R管理圖,直方 德國Roentgenanalytik X-射線熒光分析儀適合五金電鍍,線路板,SMT等等行業(yè)! 鍍層測(cè)厚的必選產(chǎn)品!??!
Compact 5/PIN
X-Ray Fluorescence Analyser with Semiconductor Detector
Compact 5/5PIN :輕巧的設(shè)計(jì),半開放式測(cè)試箱,可容納大件的PCB產(chǎn)品,功能強(qiáng)大,可配合激光自動(dòng)對(duì)焦,*方位自動(dòng)樣品臺(tái)等功能使用。適合中小工件及PCB等產(chǎn)品行業(yè)。Compact 5 PIN更配備了半導(dǎo)體電子冷卻檢測(cè)器,令分辨率數(shù)倍提高,可測(cè)量非常薄的鍍層,滿足于半導(dǎo)體電子工業(yè)的應(yīng)用。
**性能:
通過德國PTB**驗(yàn)證,符合德國*高**法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。
可測(cè)元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U)
可測(cè)量厚度范圍:
22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
準(zhǔn)直器:0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm 。
可選四個(gè)組合:0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm
50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um
自動(dòng)測(cè)量功能:
編程測(cè)量,自定測(cè)量
修正測(cè)量功能:
底材修正,已知樣品修正
綜合性能:
鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:
可分析三層厚度,*有的FP分析軟件,*正做到無厚度標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量(需要配合純材料),為您節(jié)省購買標(biāo)準(zhǔn)片的成本。*全超越其他品牌的FP軟件。
鍍液分析:
可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液。
定性定量分析:
光譜表示,光譜比較,可定性分析20多種金屬元素;并可合金成份分析,可定量分析成分含量。
光譜對(duì)比功能:
可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度。
統(tǒng)計(jì)功能:
x管理圖,x-R管理圖,直方柱圖,能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì)